超分辨率显微镜观察（3D OM）

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    • 商品名称: 超分辨率显微镜观察（3D OM）

    3D OM (3D Optical microscope)具有高景深、大景深、倾斜角度检测优势和先进的量测功能，可针对各种不同高度的待测物体，进行多角度的全面对焦，并获得清晰的影像进行观察。适合进行元器件焊接检验与失效分析。

  • DMS 1000

  • 可捕获放大倍率20x-7500x的高分辨率图像

    150x 金线观察

    2500x 芯片观察

    7500x 芯片观察

     

    通过多重照明功能，分析各个方向的照明数据，获取最佳成像效果。

     

    丰富的量测功能，满足各类测量需求。

     

    高分辨率与超景深并存，可进行最大90度斜向低角度立体观察

     

    高精度XY电动平台，可对最大10cm*10cm的样品进行图像拼接，获取最高100000*100000像素的高分辨图像

     

    拥有多种轮廓量测工具、精确测量物体的高度轮廓信息

所属分类：

非破坏分析

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