表面3D轮廓量测仪

  • 详细描述
  • 案例分享
  • 应用范围
  • 设备规格
    • 商品名称: 表面3D轮廓量测仪

    表面3D轮廓量测仪分析手法,专为解决传统量测效率低与人为误差的痛点而设计。提供非接触式,且可快速扫描大面积的3D量测服务。基础原理是利用光源投射条纹光线在样品表面,样品的高低差会使条纹产生变化,再透过已知入射角度计算出对应的阶差,最终建构出完整的立体3D形貌。

     

    久析能为你做些什么

    久析提供的一站式表面3D轮廓量测服务,支持从样品前处理、机械与环境应力测试,到后段异常比对与故障分析的完整解决方案。当可靠度测试结束后若发现异常点,可透过久析内部的失效分析与材料分析实验室,深入找出问题根因,缩短开案周期,加快问题解决。

    我们配备的Keyence VR-6200 表面3D轮廓量测仪具备自动化、非接触式高解析扫描功能,可同时量测面积(X/Y)、高度(Z)与曲率变化,无须复杂前处理,即可协助您掌握翘曲、膨胀、凹陷等塑性变形,可广泛应用于封装、模块、PCB 与高段差样品。

     

    服务优势

    高精度 + 高效率的3D量测能力

    最大量测范围达 300×150×70mm,分辨率达 0.4 μm(高度)/±5μm(宽度),1400万像素黑白CMOS。支持高反射、低反射与透明样品,皆能稳定获取数据。

    微结构与大面积兼顾

    从整体模块到微小锡球皆可量测。非接触式一键扫描,无需手动对焦与繁琐调整,自动拼接有效避免人为误差。

    串接一站式分析,快速找出故障真因

    表面3D轮廓量测结果,可作为故障分析与材料分析之重要参考,快速定位出异常根因。

     

    设备规格

    Keyence VR-6200

    显示分辨率:0.1um

    Z轴精度:Without Z stitching: ±2.5um / With Z stitching: ±4.0um

    XY轴精度:±5.0um ~ ±2.0um

    XY轴分辨率:1 pixel = 1.9~24um (depends on magnification)

  • 平面测量

     

    3D轮廓测量

所属分类:

标签:

获取报价

注意: 如果您对我们的服务项目感兴趣,请留下您的电子邮件,免费得到项目报价,谢谢!

提交留言